測(cè)試原理
薄膜測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)試原理,裁取一定尺寸試樣,放置在下測(cè)量平臺(tái)上,測(cè)量頭自動(dòng)下降在試樣之上,在一定壓力和一定接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值。
產(chǎn)品特征
7寸液晶觸摸屏顯示,一鍵化操作
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力
測(cè)試過程中測(cè)量頭自動(dòng)升降,有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定,每次測(cè)量前測(cè)量頭自動(dòng)清零,降低系統(tǒng)誤差
實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的更大值、最小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、儲(chǔ)存、打印等許多實(shí)用功能
微型打印機(jī)方便測(cè)試結(jié)果快捷輸出
設(shè)備內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、查詢,并可搜索歷史數(shù)據(jù)
具備GMP三級(jí)權(quán)限管理功能,滿足醫(yī)藥行業(yè)使用要求
測(cè)試應(yīng)用
薄膜、薄片、隔膜、紙張、紙板、箔片、硅片、金屬片等材料的測(cè)試。
技術(shù)參數(shù)
測(cè)試范圍:0~2mm(標(biāo)配)
分辨率:0.1μm
重復(fù)性:0.3um
測(cè)量速度:10次/min
測(cè)量壓力:17.5±1kPa
測(cè)量頭:50mm2(球形測(cè)頭可選)
尺寸:450mm(L)× 350mm(W)× 400mm(H)
重量:35kg
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
薄膜測(cè)厚儀滿足多項(xiàng)和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):ISO4593、ISO534、ISO3034、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、JISK6250、JISK6783、JISZ1702、GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547
產(chǎn)品配置
標(biāo)準(zhǔn)配置:主機(jī)、微型打印機(jī)
選購(gòu)件:測(cè)量頭